Descrição
Aparelhos para medições de calibração ULM 520 S-E
Campo de medição da medição externa [mm] 0 até 520
Campo de medição da medição interna [mm]
Informações do produto
Aparelhos universais para medição de comprimentos com campo de medição direto em todo o comprimento do aparelho Comparador com berço horizontal (granito de elevada homogeneidade e rigidez)
Sistema de medição eixo X: Sistema de medição de comprimentos Heidenhain, incremental, de alta precisão, 100 mm de comprimento no elemento de medição
sistemas incrementais de medição de luz refletida Heidenhain em todo o comprimento da estrutura base, esquerda e direita da base
Sistema de medição eixo Z: Sistema de medição de cumprimentos RENISHAW, incremental, de alta precisão, 80 mm de comprimento
Dados técnicos
| Campo de medição da medição externa [mm] | 0 até 520 |
| Campo de medição da medição interna [mm] | 0,5 até 365 |
| Campo de medição direto [mm] | Medição externa: 0 até 520 Medição interna: 0,5 até 365 |
| Desvio de medição longitudinal MPEE1 (C em mm)[µm] | somente com elemento de medição ABBE: MPE E1 ≤ (0,09+L/2000) com sistema de medição na estrutura de base: MPE E1 ≤ (0,6+L/1000) |
| Repetibilidade [µm] | com elemento de medição Abbe: ≤ 0,05 com sistema de medição na estrutura de base: ≤ 0,2 |
| Forças de medição [N] | 0,2 ; 1,0 até 4,5 ; 11 |
| Comprimento do aparelho [mm] | 1080 |
| Massa [kg] | 160 |
| Dimensões do aparelho (CxLxH) [mm] | 1080 x 380 x 480 |
